TY - JOUR T1 - Observation of ultrahigh quality factor in a semiconductor microcavity JO - Applied Physics Letters PY - 2005/05/09 AU - Sanvitto D AU - Daraei A AU - Tahraoui A AU - Hopkinson M AU - Fry PW AU - Whittaker DM AU - Skolnick MS ED - DO - DOI: 10.1063/1.1925774 PB - AIP Publishing VL - 86 IS - 19 SP - 191109 EP - 191109 Y2 - 2025/05/21 ER -