TY - JOUR T1 - Avalanche Gain and Energy Resolution of Semiconductor X-ray Detectors JO - IEEE T ELECTRON DEV PY - 2011/06/01 AU - Tan CH AU - Gomes RB AU - David JPR AU - Barnett AM AU - Bassford DJ AU - Lees JE AU - Ng JS ED - DO - DOI: 10.1109/TED.2011.2121915 VL - 58 IS - 6 SP - 1696 EP - 1701 Y2 - 2025/05/26 ER -